labviewについて質問があります。

[reicoo1996423]

いま卒業研究でlabviewとUSB6210を使って電気接点の接触抵抗を測定する実験を行っています。

実験方法としては電気接点を自動開閉して（一定の速度で一秒間に三回開閉）接点が閉じたときの電圧降下を読み取って計算から接触抵抗を求めています。

この実験で電圧降下だけを自動で読み取りたいのですが、現状電圧降下だけでなく接点を閉じる前の電圧も記録してしまっています。

どうしたら接点が閉じている状態（電圧降下）だけを記録できるでしょうか。

ちなみに接点の自動開閉はUSB6210のパルス出力でhigh時間とlow時間を設定して開閉しています。

この時のlow時間（接点を閉じている状態）の電圧だけを読み取りたいのです。

説明がへたくそで申し訳ないです。

よろしければご協力をお願いします。

[Y.Ueno（退職）]

平素よりNI製品をご愛顧頂きありがとうございます。
日本ナショナルインスツルメンツ技術部の上野です。

USB-6210には、アナログ信号をソースとするアナログトリガ機能はありませんので、ハードウェアによる電圧降下部分だけの収集はできません。

そのため、データ収集したデータ値に対して、基本レベルトリガ検出VIを利用して必要な部分のデータを抽出してみては如何でしょうか？

このVIは、関数パレット>>信号処理>>波形測定>>波形監視サブパレットにあります。

下図は、その実装例です。収集部分は簡略化のため有限サンプルモードにしています。

[reicoo1996423]

お忙しいところ返信ありがとうございます。

今試しに返信いただいたのを参考に作っているのですが波形グラフのところの制御パレット？のある場所がわかりません。同様に開始レベル、終了レベル、rate、電圧降下部分のDBLと書いてあるオレンジ色のやつ、samples per channelの青いやつ、physical channelsと書いてあるところの紫の部分。

素人質問ですいません。まだlabviewを使い始めて１か月ほどなのでわからないところだらけです。

またどのように実行されるかも軽くでいいので教えていただけたら助かります。

[Y.Ueno（退職）]

ご使用のLabVIEWバージョンについて記載がありませんでしたので、旧バージョン用に保存でバージョン2012として保存したVIを添付致します。このVIが開ければ、お使いのLabVIEWエディションで使える関数です。

まず、ダイアグラムの何も配置されていない白い部分で右クリックして関数パレットを開き、関数パレット>>信号処理>>波形測定>>波形監視サブパレットにアクセスできるかをご確認ください。

問題なく開ければ、<Ctrl-H>で詳細ヘルプを開いた状態でマウスカーソルを関数に合わせると、そのヘルプが表示されて、各端子が何を示しているかが分かります。また、詳細ヘルプウィンドウの中にあるオンラインヘルプというリンクをクリックすると、さらに詳細情報が確認できます。

[reicoo1996423]

ご丁寧にありがとうございます。問題なく開くことができました。

ちなみに使っているのはバージョン2019です。

このまま頑張って進めて行きます。またわからないことがあったら質問させていただくのでよろしくお願いします。

[Y.Ueno（退職）]

無事開けたようで安心しました。これを参考にしてご自身のコードに実装していただければと思います。

[reicoo1996423]

度々申し訳ございません。プログラムをいろいろいじって試してみたのですが電圧降下の部分に何も表示されません。

ちなみにdaqアシストタント部分はUSB6210でパルス出力をして接点開閉を行っています。

また電圧降下部分だけを測定できるUSB6210ではない製品についていくつかあったら例として教えてほしいです。

[Y.Ueno（退職）]

添付いただいたコードの場合、アナログ入力が有限サンプルモードのため、一瞬で終了して、カウンタ出力だけが出力され続けているだけとなっていると思います。

パルス出力は出力し続けるようにしたいようですので、カウンタ出力とアナログ入力を同じループ内で処理して、電圧降下部分の単純に比較関数でしきい値以下のデータだけを抽出するようにしたほうがシンプルになります。

アナログトリガに対応した製品に関しては、下記のページに記載されています。このページに説明があるとおり、トリガを何度も行う再トリガには、Re-arming（再構成時間）が必要なため、速度面で要件を満たさない場合はFPGAを搭載したNI RIO製品を使用しないとハードウェア的にはおこなえないと思います。

• Retriggerable Data Acquisition with NI DAQ Devices