Objetivo
Analizar el comportamiento una planta RC utilizando una tarjeta de adquisición de datos de National Instruments NI myDAQ y el entorno LabWindows/CVI.
Agradecemos la colaboración de:
Dr. José Rivera Mejía
Professor
Instituto Tecnológico de Chihuahua
Electrical Engineering Graduate School
Chihuahua, Chih., MEXICO
jrivera@itchihuahua.edu.mx
www.depi.itchihuahua.edu.mx/jrivera
